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質譜ICP-MS是一種新型的無機元素和同位素分析技術,可同時檢測周期表上元素。ICP-MS技術在分析能力上,傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和。
簡介:
安捷倫質譜ICP-MS是一種新型的無機元素和同位素分析技術,可同時檢測周期表上幾乎元素。
ICP-MS技術在分析能力上,傳統的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和。
ICP-MS儀器的新面孔–商品化ICP-MS。
作為安捷倫系列ICP-MS的繼承者,7700性能:分析速度更快、操作更簡便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果、應用面更廣、維護更方便。
1. 靈敏度:
低質量數 Li(7): 3 50 Mcps/ppm;
中質量數 Y(89): 3 160 Mcps/ppm(7700x); 240 Mcps/ppm(7700s) ;
高質量數 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x); 120 Mcps/ppm(7700s);
根據用戶特殊需求,可提供超高靈敏度功能
2. 檢測限:
低質量數 Be(9): £ 0.5 ppt;
中質量數 In(115): £ 0.1 ppt
高質量數 Bi(209): £ 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:£ 1.5 %(7700x); 3.0 %(7700s);
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:£ 3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) £0.1%
6. 質譜范圍:2 - 260 amu;
7 豐度靈敏度 :
低質量端: £ 5 x 10-7
高質量端: £ 1 x 10-7