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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統,該儀器具備實驗室研究級近紅外儀器所要求的性能,能夠適應工業操作環境。該儀器和技術的成功應用將為企業成倍提高工作效率、節省大量日常常規樣品檢測成本。
技術參數:1. 一臺儀器可同時集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊,樣品可以方便得到快速檢測分析2. 采用Nicolet高光通量高速動態準直電磁式干涉儀3. 采用CaF2分束器,在近紅外光譜區域內具有更高的能量分布4. 各個分析模塊均采用對近紅外光靈敏度高的InGaAs檢測器5. 儀器與電腦間采用標準接口6. 低使用和維護成本
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